Opis

• Tytuł:
  Scanning electron microscope at low voltage operation - a unique characterization tool for graphene layers Iwona Jóźwik.
• Twórca:
  Jóźwik Iwona
• Współtwórca:
  Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych. (Wyd.)
• Opis:
  Bibliogr. s.: 15-16
• Dostępność obiektu:
  Dostęp otwarty
• Prawa:
  Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony;
  Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.;
  Otwarty
• Data:
  2016.12.31;
  2016
• Typ:
  tekst;
  artykuł
• Język:
  angielski
• Źródło: http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6839
• Format:
  application/pdf;
  A4
• Wydawca:
  ITME
• Relacja:
  Materiały Elektroniczne
• Temat i słowa kluczowe:
  Graphene;
  Graphene characterization;
  Low-kV scanning electron microscopy;
  Grafen;
  Charakteryzacja grafenu;
  Niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa
• Dostawca danych:
  Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
• Czy mogę z tego obiektu skorzystać?:
  poproś o pozwolenie
• Rodzaj zawartości:
  pozostałe