Opis

• Tytuł:
  Urządzenie do pomiaru i rejestracji odkształceń powłok cienkościennych obracających się cylindrów pracujących w pozycjach nie pionowych : opis patentowy nr 146903
• Twórca:
  Frąckiewicz, Henryk;
  Weroński, Andrzej (1938- );
  Kiełbiński, Jerzy;
  Malinowski, Wacław;
  Maj, Marek
• Współtwórca:
  Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu
• Opis:
  Przedmiotem wynalazku jest urządzenie do pomiaru i rejestracji odkształceń powłok cienkośoiennyoh obraoająoych się cylindrów pracujących w pozycjach nie pionowych, zwłaszcza płaszczy pieców obrotowych do wypalania klinkieru cementowego.
• Dostępność obiektu:
  Dostęp otwarty
• Prawa:
  Politechnika Lubelska
• Data:
  1985.04.12;
  1986.10.21;
  1989.07.31;
  2013
• Typ:
  Opis patentowy
• Zakres:
  G01B 5/20 Int. Cl.4.
• Format:
  application/pdf;
  full-text searchable
• Wydawca:
  Politechnika Lubelska
• Relacja:
  Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 252915 (A1) 12.04.1985.;
  Nr zgłoszenia: 252915.
• Dostawca danych:
  Biblioteka Cyfrowa Politechniki Lubelskiej
• Czy mogę z tego obiektu skorzystać?:
  poproś o pozwolenie
• Rodzaj zawartości:
  obrazy