Opis

• Title:
  Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method
• Creator:
  Evmenova, Anna Z.;
  Odarych, Volodymyr A.;
  Sizov, Fedir F.;
  Vuichyk, Mykola V.
• Contributor:
  Gaj, Miron. Redakcja;
  Urbańczyk, Wacław. Redakcja
• Description:
  Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3, s. 585-600
• Object availability:
  Dostęp otwarty
• Rights:
  Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
  Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
• Date:
  2008.12.31;
  2008
• Type:
  artykuł
• Language:
  eng;
  angielski;
  English
• Source:
  <sygn. PWr A3481II>;
  http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
• Publisher:
  Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Relation:
  Optica Applicata;
  Optica Applicata, Vol. 38, 2008;
  Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3;
  Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
• Subject:
  optyka;
  ellipsometry;
  passivation CdTe films;
  methods of calculating film parameters
• Data provider:
  Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa
• Can I use it?:
  poproś o pozwolenie
• Type:
  obrazy