Federacja Bibliotek Cyfrowych

Strona główna
Biblioteka Cyfrowa Politechniki Śląskiej
Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

Szczegóły obiektu: Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

tile.noImage

Instytucja dostarczająca:Biblioteka Cyfrowa Politechniki Śląskiej

Opis

Title:
Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej
Creator:
Kochowski, Stanisław;
Szydłowski, Michał
Description:
s. 199-212;
Z. 91 = Nr 1652;
35-lecie Wydziału Matematyczno-Fizycznego;
60-lecie Politechniki Śląskiej
Object availability:
Dostęp otwarty
Rights:
Wydawnictwo Politechniki Śląskiej;
zasób dostępny bez ograniczeń
Date:
2004.12.31;
2004
Type:
artykuł
Language:
polski
Source:
P.3359;
P.3360
Publisher:
Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Subject:
Politechnika Śląska;
fizyka;
matematyka
Identifier: Katalog Biblioteki-Zeszyty Naukowe ;Baza Wiedzy PŚ ;Katalog Biblioteki-Artykuł
Data provider:
Biblioteka Cyfrowa Politechniki Śląskiej

Can I use it?:
tak
Type:
obrazy

Podobne obiekty

tile.noImage

Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

Twórca:Kochowski, Stanisław | Szydłowski, Michał

Data:2004.12.31 | 2004

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

35 lat Wydziału Matematyczno-Fizycznego

Twórca:Kochowski, Stanisław

Data:2004.12.31 | 2004

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Recenzja rozprawy doktorskiej mgr inż. Anny Michalewicz pt. Niejednorodność optyczna cienkich warstw In-Se

Twórca:Kochowski, Stanisław

Data:2004.12.31 | 2004

Rodzaj zawartości:pozostałe

tile.noImage

Fenomenologiczna analiza stanów powierzchniowych w układzie półprzewodnik-dielektryk

Twórca:Kochowski, Stanisław

Data:1996.12.31 | 1996

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Aktualne poglądy na pochodzenie stanów powierzchniowych granicy fazowej półprzewodnik - dielektryk

Twórca:Kochowski, Stanisław

Data:1989.12.31 | 1989

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Analiza powierzchniowych procesów elektronowych w strukturze metal-SiO2-GaAs

Twórca:Kochowski, Stanisław

Data:2001.12.31 | 2001

Rodzaj zawartości:teksty

tile.noImage

Zastosowanie metody fotonapięcia powierzchniowego do badań powierzchni półprzewodników

Twórca:Adamowicz, Bogusława | Kochowski, Stanisław

Data:1989.12.31 | 1989

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Stanowisko do badana struktur MOS metodą kwasistatycznych charakterystyk C-V

Twórca:Kochowski, Stanisław | Łoś, Stanisław | Wittek, Karol

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

Projekt FBC TeNe

Projekt dofinansowany z Funduszy Europejskich w ramach Programu Operacyjnego Polska Cyfrowa na lata 2014-2020 (projekt nr POPC.02.04.00-00-0012/20-00)

Więcej informacji o projekcie znajdziesz na stronie: https://tene.fbc.pionier.net.pl/

Fundusze Europejskie. Polska Cyfrowa

Rzeczpospolita Polska

FBC - Federacja Bibliotek Cyfrowych

Unia Europejska - Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Używamy plików cookies, by nieustannie zwiększać komfort przeglądania naszej strony internetowej. W celu uzyskania szczegółowych informacji, prosimy o zapoznanie się z dokumentem Polityki Prywatności