Description

• Title:
  Accurate interference pattern analysis module of automatic measurement system
• Creator:
  Whang, Allen J.;
  Chung, Chi-Kuei
• Contributor:
  Gaj, Miron. Redakcja;
  Wilk, Ireneusz. Redakcja
• Description:
  Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 627-634
• Object availability:
  free access
• Rights:
  Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
  Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
• Date:
  2003.12.31;
  2003
• Type:
  artykuł
• Language:
  eng;
  angielski;
  English
• Source:
  <sygn. PWr A3481II>;
  http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
• Format:
  application/pdf
• Publisher:
  Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Relation:
  Optica Applicata;
  Optica Applicata, Vol. 33, 2003;
  Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4;
  Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
• Subject:
  optyka;
  automatic measurement system;
  interferometry;
  integrate with interferometers;
  error-compensating algorithms
• Data provider:
  Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa
• Can I use it?:
  seek permission
• Type:
  image