Urządzenie do ustawiania zerowego położenia licznika impulsów z zerem skali goniometru rentgenowskiego : opis patentowy patentu tymczasowego nr 100721

Urządzenie do obserwacji mikroskopowych składników strukturalnych materiałów metalicznych, ujawnionych metodą naparowywania substancją interferencyjną : opis patentowy patentu tymczasowego nr 100098

Przyrząd do badań rentgenostrukturalnych powierzchni zewnętrznych przedmiotów walcowych, zwłaszcza pierścieni wewnętrznych łożysk kulkowych : opis patentowy nr 103190

Sposób badania faz na wewnętrznych i zewnętrznych powierzchniach krzywoliniowych, zwłaszcza pierścieni łożysk tocznych : opis patentowy nr 114909

Urządzenie do wytwarzania charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego : opis patentowy patentu tymczasowego nr 103173

Przyrząd do badań rentgenostrukturalnych powierzchni wklęsłych i wypukłych : opis patentowy patentu tymczasowego nr 122634

Urządzenie do oznaczania charakterystycznych parametrów kinematyki powstawania powłok w środowiskach aktywnych na materiałach podlegających działaniu środowisk aktywnych, obróbce cieplnej lub cieplno-chemicznej : opis patentowy nr 153909

Spiek ceramiczno-metalowy na okładziny sprzęgieł : opis patentowy nr 164101