Federacja Bibliotek Cyfrowych

Strona główna
Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa
Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology

Szczegóły obiektu: Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology

tile.noImage

Instytucja dostarczająca:Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa

Opis

Tytuł:
Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology
Twórca:
Żukowska, Krystyna;
Oleszkiewicz, Ewa
Współtwórca:
Gaj, Miron. Redakcja;
Wilk, Ireneusz. Redakcja
Opis:
Optica Applicata, Vol. 31, 2001, nr 1, s. 35-51
Dostępność obiektu:
Dostęp otwarty
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Data:
2001.12.31;
2001
Typ:
artykuł
Język:
angielski
Źródło:
<sygn. PWr A3481II>;
http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
Format:
application/pdf
Wydawca:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Relacja:
Optica Applicata;
Optica Applicata, Vol. 31, 2001;
Optica Applicata, Vol. 31, 2001, nr 1;
Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Temat i słowa kluczowe:
optyka
Dostawca danych:
Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa

Czy mogę z tego obiektu skorzystać?:
poproś o pozwolenie
Rodzaj zawartości:
obrazy

Podobne obiekty

tile.noImage

Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology

Twórca:Żukowska, Krystyna | Oleszkiewicz, Ewa

Data:2001.12.31 | 2001

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Examination of thin dielectric films with ellipsometric method

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa | Żukowska, Krystyna

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Letter to the Editor: An algorithm for determining the refractive index and thickness of thin dielectric layers on an absorbing substrate on the basis of ellipsometric measurements

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa | Żukowska, Krystyna

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Ellipsometric measurements of poly(methyl metacrylate) layers bombarded with boron ions

Twórca:Oleszkiewicz, Ewa

Data:1985.12.31 | 1985

Rodzaj zawartości:teksty

tile.noImage

Ellipsometric examination of anodized aluminium layers within the visible spectral range

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Letter to the Editor: An explanation of the untypical dependence of the refractive index upon the thickness of very thin ytterbium oxide layers on chromium

Twórca:Idczak, Elżbieta | Żukowska, Krystyna

Data:1980.12.31 | 1980

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Ellipsometric examinations of thin ytterbium oxide layers on chromium

Twórca:Idczak, Elżbieta | Żukowska, Krystyna

Data:1978.12.31 | 1978

Rodzaj zawartości:obrazy

tile.noImage

Optical properties of terbium-oxide films

Twórca:Marcinów, Tadeusz | Wesołowska, Cecylia | Żukowska, Krystyna

Data:1985.12.31 | 1985

Rodzaj zawartości:teksty

Projekt FBC TeNe

Projekt dofinansowany z Funduszy Europejskich w ramach Programu Operacyjnego Polska Cyfrowa na lata 2014-2020 (projekt nr POPC.02.04.00-00-0012/20-00)

Więcej informacji o projekcie znajdziesz na stronie: https://tene.fbc.pionier.net.pl/

Fundusze Europejskie. Polska Cyfrowa

Rzeczpospolita Polska

FBC - Federacja Bibliotek Cyfrowych

Unia Europejska - Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego

Używamy plików cookies, by nieustannie zwiększać komfort przeglądania naszej strony internetowej. W celu uzyskania szczegółowych informacji, prosimy o zapoznanie się z dokumentem Polityki Prywatności