Szczegóły obiektu: Letter to the Editor: An algorithm for determining the refractive index and thickness of thin dielectric layers on an absorbing substrate on the basis of ellipsometric measurements

Instytucja dostarczająca:Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa

Opis

Tytuł:
Letter to the Editor: An algorithm for determining the refractive index and thickness of thin dielectric layers on an absorbing substrate on the basis of ellipsometric measurements
Twórca:
Idczak, Elżbieta;
Oleszkiewicz, Ewa;
Żukowska, Krystyna
Współtwórca:
Gaj, Miron. Redakcja
Opis:
Optica Applicata is an international journal, published in a non-periodical form in the years 1971-1973 and quarterly since 1973. From the beginning of the year 2008, Optica Applicata is an Open Access journal available online via the Internet, with free access to the full text of articles serving the best interests of the scientific community. The journal is abstracted and indexed in: Chemical Abstracts, Compendex, Current Contents, Inspec, Referativnyj Zhurnal, SCI Expanded, Scopus, Ulrich’s Periodicals Directory;
http://opticaapplicata.pwr.edu.pl ;
Optica Applicata, Vol. 9, 1979, nr 1, s. 47-51
Dostępność obiektu:
Dostęp otwarty
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Data:
1979.12.31;
1979
Typ:
artykuł
Język:
angielski
Źródło:
<sygn. PWr A3481II>;
http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
Format:
application/pdf
Wydawca:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Relacja:
Optica Applicata;
Optica Applicata, Vol. 9, 1979;
Optica Applicata, Vol. 9, 1979, nr 1;
Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Temat i słowa kluczowe:
optyka
Dostawca danych:
Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa

Podobne obiekty

Examination of thin dielectric films with ellipsometric method

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa | Żukowska, Krystyna

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

Letter to the Editor: An algorithm for determining the refractive index and thickness of thin dielectric layers on an absorbing substrate on the basis of ellipsometric measurements

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa | Żukowska, Krystyna

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

Ellipsometric examination of anodized aluminium layers within the visible spectral range

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa

Data:1979.12.31 | 1979

Rodzaj zawartości:obrazy

Letter to the Editor: An explanation of the untypical dependence of the refractive index upon the thickness of very thin ytterbium oxide layers on chromium

Twórca:Idczak, Elżbieta | Żukowska, Krystyna

Data:1980.12.31 | 1980

Rodzaj zawartości:obrazy

Ellipsometric examinations of thin ytterbium oxide layers on chromium

Twórca:Idczak, Elżbieta | Żukowska, Krystyna

Data:1978.12.31 | 1978

Rodzaj zawartości:obrazy

Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology

Twórca:Żukowska, Krystyna | Oleszkiewicz, Ewa

Data:2001.12.31 | 2001

Rodzaj zawartości:obrazy

Letter to the Editor: An algorithm for determining the optical constants and thicknesses of thin absorbing layers from the ellipsometric measurements

Twórca:Idczak, Elżbieta | Oleszkiewicz, Ewa | Spławski, Zdzisław

Data:1981.12.31 | 1981

Rodzaj zawartości:teksty

Optical Properties of Non-Transparent Chrome Layers

Twórca:Idczak, Elżbieta

Data:1973.12.31 | 1973

Rodzaj zawartości:obrazy

Federacja Bibliotek Cyfrowych

Szczegóły obiektu: Letter to the Editor: An algorithm for determining the refractive index and thickness of thin dielectric layers on an absorbing substrate on the basis of ellipsometric measurements

Opis

Podobne obiekty